Über Christian Zietlow
Physiker, Patentanwaltskandidat bei Eisenführ Speiser. Gerne bei Fragen zu meiner Forschung und meinen Veröffentlichungen über LinkedIn Kontakt aufnehmen.
Curriculum Vitae
Seit 01/2025: Patentanwaltskandidat
Eisenführ Speiser
01/2019 - 12/2024: Doktorand für Physik an der Universität Paderborn
Dissertation: "A novel Lagrangian-based method for the deconvolution of electron energy-loss spectra"
Eingereicht: 15. Juli 2025 | Verteidigung: 6. November 2025
Experimentelle Arbeit:
- (Raster)Transmissionselektronenmikroskopie ((S)TEM) mit Schwerpunkt EELS, EDS und ADF
- Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
- Nanokugellithographie (NSL)
Numerische und theoretische Arbeit:
- Statistische Modellierung von Detektorrauschen
- ADMM-basierte Algorithmen und spektrale Entfaltung
- Raytracing-Simulationen
04/2016 - 08/2018: Master of Science in Physik an der Friedrich-Schiller-Universität Jena
Masterarbeit: “Emissionscharakteristik von ZnO-Nanodrähten unter externen Magnetfeldern”
- Winkelaufgelöste Messung der Polarisationseigenschaften von ZnO-Nanodrähten
- Design und Aufbau eines Mikrophotolumineszenz-Messplatzes (µ-PL) einschließlich Fourieroptik und Magnetfeldsteuerung
- Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
10/2012 - 03/2016: Bachelor of Science in Physik an der Universität Rostock
Bachelorthesis: “Perylen-Nanokristalle für Energie-Transfer-Studien”
- Korrelation der Fluoreszenz mit der Morphologie und Topographie von organischen Halbleiterkristallen
- Fluoreszenzmikroskopie
- Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Publikationen
Ausgewählte Publikationen
A novel Lagrangian-based method for the deconvolution of electron energy-loss spectra
C. Zietlow, A Novel Lagrangian-Based Method for the Deconvolution of Electron Energy-Loss Spectra, Universitätsbibliothek Paderborn, 2025.
An unbiased ADMM-TGV algorithm for the deconvolution of STEM-EELS maps
C. Zietlow, J. Lindner, Ultramicroscopy (2025).
An applied noise model for low-loss EELS maps
C. Zietlow, J. Lindner, Ultramicroscopy 270 (2025).
An applied noise model for scintillation-based CCD detectors in transmission electron microscopy.
C. Zietlow, J. Lindner, Sci Rep 15 (2025) 3815.
ADMM-TGV image restoration for scientific applications with unbiased parameter choice
C. Zietlow, J. Lindner, Numerical Algorithms 97 (2024) 1481–1512.
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