Design-for-FAST: Supporting X-tolerant Compaction during Faster-than-at-Speed Test
2017 M. Kampmann, S. Hellebrand
20th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS), Dresden

X Marks the Spot: Scan-Flip-Flop Clustering for Faster-than-at-Speed Test
2016 S. Hellebrand, M. Kampmann
Proceedings of the 25th IEEE Asian Test Symposium (ATS), Hiroshima, Japan. November 2016, pp 1-6

Optimized Selection of Frequencies for Faster-than-at-Speed Test
2015 M. Kampmann, M. Kochte, E. Scheider, T. Indlekofer, S. Hellebrand, H. Wunderlich
Proceedings of the 24th IEEE Asian Test Symposium (ATS), Mumbai, Indien, Nov. 2015

FAST-BIST: Faster-than-At-Speed BIST Targeting Hidden Delay Defects
2014 S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H. Wunderlich
Proceedings of the IEEE International Test Conference (ITC), Seattle, USA, October 21-23, 2014

Design For Small Delay Test - A Simulation Study
2018 M. Kampmann, S. Hellebrand
Microelectronics Reliability 80, Jan. 2018, pp 124-133

X-tolerante Prüfzellengruppierung für den Test mit erhöhter Betriebsfrequenz
2017 M. Kampmann, S. Hellebrand
29. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ'17). Lübeck, 5. - 7. März 2017

Effiziente Auswahl von Testfrequenzen für den Test kleiner Verzögerungsfehler
2015 S. Hellebrand, T. Indlekofer, M. Kampmann, M. Kochte, C. Liu, H. Wunderlich
27. Workshop "Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen" (TuZ'15), Bad Urach, 1. - 3. März 2015