Auftakt im Rathaus mit Bürgermeister Paus - Führende Vertreter aus Industrie und Forschung treffen sich im Heinz Nixdorf Museumsforum

Das führende europäische Forum im Bereich der mikroelektronischen Schaltungen und System „IEEE European Test Symposium“ (ETS) fand in diesem Jahr unter der Leitung von Prof. Dr. Sybille Hellebrand in Paderborn statt. Die Universität Paderborn ist gemeinsam mit dem amerikanischen Ingenieursverband IEEE der Hauptveranstalter der Tagung. Die rund 200 Teilnehmer aus 27 Ländern erwartete auch in diesem Jahr wieder ein attraktives Programm. Neben wissenschaftlichen Vorträgen, die einen strengen Begutachtungsprozess bestehen mussten und von IEEE veröffentlicht werden, sind Tutorials zu aktuellen Themen, Diskussionsforen, Workshops sowie hochkarätige Vorträge veranstaltet worden.

Zum Auftakt der Tagung waren die Teilnehmer am ersten Abend zu einem Empfang von Bürgermeisters Heinz Paus im Rathaus eingeladen. In einer Präsentation stellte er dem internationalen Publikum die Stadt an der Pader vor. Von der grünen Stadt mit ihren Parks und dem historischen Stadtkern bis hin zu ihrer Rolle als Kultur- und Sportstadt sowie Technologiestandort skizzierte er ein umfangreiches Portrait. Ein Gedankenaustausch fand im Anschluss bei einem gemeinsamen Imbiss statt.

Immer kleinere Mikrochips können heute immer komplexere Aufgaben übernehmen. Die Anwendungen reichen von Hochleistungsrechnern, über Steuereinheiten in Autos oder in der Medizintechnik bis hin zu mobilen Geräten wie Smartphones oder Tablet-PCs. Um die erforderliche Qualität und Sicherheit zu garantieren, müssen defekte Chips nach der Produktion möglichst schnell und mit hoher Treffsicherheit aussortiert werden können. Herauszufinden ob einer von Millionen Transistoren in einem Chip nicht korrekt funktioniert, ist fast so wie eine Nadel im Heuhaufen zu finden. Der Test mikroelektronischer Schaltungen und System ist deshalb eine große Herausforderung für Industrie und Wissenschaft. Das IEEE European Test Symposium (ETS) ist das führende europäische Forum in diesem Bereich. Internationale Experten aus Forschung und Industrie treffen sich jährlich an wechselnden Tagungsorten, um wissenschaftliche Ergebnisse sowie neue Herausforderungen und Trends zu diskutieren.


Text: Daniel Höing, Stadt Paderborn

Foto (Stadt Paderborn, Daniel Höing): Bürgermeister Heinz Paus und Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Leiterin des diesjährigen IEEE European Test Symposium, im Gespräch mit den Tagungsteilnehmern des diesjährigen „IEEE European Test Symposium" im groß
Foto (Stadt Paderborn, Daniel Höing): Bürgermeister Heinz Paus und Prof. Dr. Sybille Hellebrand, Leiterin des diesjährigen IEEE European Test Symposium, im Gespräch mit den Tagungsteilnehmern des diesjährigen „IEEE European Test Symposium" im großen Rathaussaal.